Hot Disk 熱傳導係數儀 TPS2500
型號：Hot Disk TPS2500
中文名稱：熱傳導係數儀
英文名稱：Thermal Conductivity Measurements
廠牌：Hot Disk AB
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產品特色
Hot Disk 熱傳導係數儀,是使用ISO 22007-2 Transient plane heat source method（TPS) 瞬變平面熱源法測試,能涵蓋大多數的材料需求，TPS 法不僅適用於量測各類均質材料及異方向性同軸結構材料，從低熱導泡材料材到高熱導金屬材料也都可進行測試，可同步量測出材料的熱傳導值(Thermal Conductivity)、熱擴散值、熱容、可依照應用分為許多測試模組，可分析塊體、薄膜、片狀高熱導及異方向性材料，亦可分析不同型態樣品:液狀、膏狀、膠狀、粉狀等樣品熱傳導係數
目前，Hot Disk 的TPS 測試方式中，已能針對多種一般無法測試熱傳導的材料進行測試（例如：奈米水溶液、高分子薄膜&hellip等特殊材料），並且擁有業界唯一可同時測得X、Y 軸方向及Z 軸方向的異方向性熱傳導測試專利設計（PCT/SE00100868、Japan 2928303、USA 5044767、UK406282）。目前已有許多國內外大廠、研究機構、學術單位及產業界用來測量材料熱傳導特性，藉此方法可實際測出材料熱傳導特性，最終獲得最佳化的材料設計與開發方向。
| 規格 | |
| 型號 | TPS 2500S |
| 量測項目 | 可同時測得熱傳導係數(Thermal Conductivity, W/mK),熱擴散(Thermal Diffusivity, mm2/s)與熱容(Specific Heat, J/m3℃),並可由比熱量測模式求得比熱(Specific Heat Capacity, /kg℃)。 |
| 量測範圍 | 0.005 W/mK~1800W/mK |
| 模式 | 標準模式Standard Method |
| 選配模式 | *薄膜模式(Thin Film Method) *高熱傳片狀模式(Slab Method) *異方向性模式(Anisotorpic Method) *比熱模式(Cp Method) |
| 量測溫度 | -235℃~1000℃ |
| 精密度 | 5%以內 |
| 測試時間 | 1~2分鐘內即可完成測試 |
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最小樣品尺寸 |
標準:長5 寬5cm 厚度3mm |
| 樣品種類 | 固體，液體，粉末，膏狀，膠狀，薄膜樣品 |
| 儀器特色 | *採非破壞性樣品測試方法 *不需輸入比熱(Cp)及密度(D)即可量測熱導係數 *不需裁減樣品即可依樣品大小選取適當的感測器 *可擴充性：可擴充由軟體控溫 |
