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X射線螢光膜厚儀

型號:
X射線螢光膜厚儀 
中文名稱:X射線螢光膜厚儀
英文名稱:Fluorescent X-ray thickness Analyzer

產品特點

  • 通過自動定位功能提高操作性測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現在3秒內即可完成,大大提高樣品定位的操作性。
  • 微區膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
  • 多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。
  • 廣域觀察系統(選配)可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。
  • 對應大型印刷線路板(選配)可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。
 
產品規格
檢測器 比例計數管
X射線源 空冷式小型X射線管
管電壓 50KV
管電流 1mA
準直器 0.1、0.2mmφ2種
樣品觀察 CCD攝影機
濾波器: 一次濾波器,自動切換
對焦: 雷射對焦
樣品台移動量 250(X)×200(Y)mm
樣品最大高度 150mm